University of Helsinki, Helsinki 2006
The roughness and imaging characterisation of different pharmaceutical surfaces
Paulus Seitavuopio
Doctoral dissertation, June 2006.
University of Helsinki, Faculty of Pharmacy, Division of Pharmaceutical Technology.
Pinnanominaisuudet ovat tärkeitä kiinteiden lääkevalmisteiden toimivuudelle. Lääkevalmisteiden valmistusprosessit muuttavat valmisteessa olevien pintojen ominaisuuksia ja pinnankarheutta. Pinnankarheus taas vaikuttaa lääkevalmisteen toimivuuteen monella eri tavalla. Sillä on vaikutusta mm. jauheiden ominaisuuksiin, tablettien puristamiseen ja tablettien päällystämiseen. Tämän tutkimuksen tavoitteena oli oppia ymmärtämään farmaseuttisten pintojen rakennetta. Erityisesti tavoitteena oli verrata neljän eri analyysitekniikan (valomikroskooppi, laserprofilometri, pyyhkäisyelektronimikroskooppi ja atomivoimamikroskooppi) käyttöä pinnoilla, joilla oli erilaiset karheusominaisuudet. Menetelmien käytettävyyttä tutkittiin mallipinnoilla, jotka olivat tasaisia tablettipintoja, päällystettyjä tablettipintoja ja kidepintoja.
Tutkimuksissa todettiin valomikroskoopin olevan käyttökelpoinen tekniikka, jolla voidaan saada pinnoista tietoa, jota ei ole mahdollista saada pyyhkäisyelektronimikroskoopilla tai atomivoimamikroskoopilla. Karheusmittaukset täydensivät kuvista saatavaa informaatiota antaen kvantitatiivista tietoa pintojen korkeusvaihteluista. Atomivoimamikroskoopilla mitattu pinnankarheustieto antaa kuvaa vain hyvin pieneltä alueelta, mistä syystä atomivoimamikroskooppi tarvitsee tuekseen muita mittaustekniikoita kuten laserprofilometrin, joka pystyy mittamaan pinnankarheutta laajemmalta alueelta. Tutkimuksessa kehitetyllä uudella pinnankarheudenanalysointimenetelmällä voidaan pinnankarheutta kuvata karttana, joka näyttää paikalliset pinnankarheuden muutokset. Menetelmällä voidaan kuvata pinnan epätasaisuutta ja sen suuruutta.
Päällystettyjen tablettien tutkimuksessa laserprofilometrillä saadut tulokset osoittivat pinnankarheuden kasvun olevan suurinta ensimmäisen 30 minuutin aikana. Pyyhkäisyelektronimikroskooppilla sekä energiaerottelevalla röntgen-analysaattorilla saaduista tuloksista voitiin päätellä, että päällystekalvo peitti tabletin pinnan 15-30 minuutin aikavälillä.
Eri mittausmenetelmien yhdistäminen mahdollisti pinnankarheuden muutoksen ja kalvopäällysteen kehittymisen seuraamisen. Optiset mittausmenetelmät antoivat hyvän yleiskuvan kiteen pinnalla tapahtuvista prosesseista. Heikkoutena optisissa menetelmissä oli liian vähäinen tarkkuus, minkä vuoksi nanometrimittakaavan ilmiöitä ei havaita. Optisilla menetelmillä näkymättömien ilmiöiden kuvaamiseen käytettiin atomivoimamikroskooppia, jolla voitiin kuvata kidepintojen nanometrimittakaavaista rakennetta.
This publication is copyrighted. You may download, display and print it for Your own personal use. Commercial use is prohibited.
© University of Helsinki 2006
Last updated 19.05.2006