| dc.date.accessioned |
2016-12-07T07:38:54Z |
und |
| dc.date.accessioned |
2017-10-24T12:04:15Z |
|
| dc.date.available |
2016-12-07T07:38:54Z |
und |
| dc.date.available |
2017-10-24T12:04:15Z |
|
| dc.date.issued |
2016-12-07T07:38:54Z |
|
| dc.identifier.uri |
http://radr.hulib.helsinki.fi/handle/10138.1/5934 |
und |
| dc.identifier.uri |
http://hdl.handle.net/10138.1/5934 |
|
| dc.title |
Sub-surface metrology : absolute z-coordinates deep inside displays |
en |
| ethesis.discipline |
Physics |
en |
| ethesis.discipline |
Fysiikka |
fi |
| ethesis.discipline |
Fysik |
sv |
| ethesis.discipline.URI |
http://data.hulib.helsinki.fi/id/3434818f-62d6-4ad2-9c9b-7a86be9cf8e6 |
|
| ethesis.department.URI |
http://data.hulib.helsinki.fi/id/3acb09b1-e6a2-4faa-b677-1a1b03285b66 |
|
| ethesis.department |
Institutionen för fysik |
sv |
| ethesis.department |
Department of Physics |
en |
| ethesis.department |
Fysiikan laitos |
fi |
| ethesis.faculty |
Matematisk-naturvetenskapliga fakulteten |
sv |
| ethesis.faculty |
Matemaattis-luonnontieteellinen tiedekunta |
fi |
| ethesis.faculty |
Faculty of Science |
en |
| ethesis.faculty.URI |
http://data.hulib.helsinki.fi/id/8d59209f-6614-4edd-9744-1ebdaf1d13ca |
|
| ethesis.university.URI |
http://data.hulib.helsinki.fi/id/50ae46d8-7ba9-4821-877c-c994c78b0d97 |
|
| ethesis.university |
Helsingfors universitet |
sv |
| ethesis.university |
University of Helsinki |
en |
| ethesis.university |
Helsingin yliopisto |
fi |
| dct.creator |
Nolvi, Anton |
|
| dct.issued |
2016 |
|
| dct.language.ISO639-2 |
eng |
|
| dct.abstract |
Mobile devices with interactive displays are ubiquitous commodities. Efficient quality control (QC) drives competitiveness. Scanning White Light Interferometry (SWLI) imaging offers fast and non-destructive QC. Relying on optical compensation and image stitching one can rapidly and cost-effectively produce sharp 3D-images of a display's inner structures with a few nanometers accuracy along the z-direction. As a practical example 3D images of a mobile device display revealed 0.92 ± 0.02 um height variation in the top glass assembly. The proposed method improves quality assurance of display manufacturing. |
en |
| dct.abstract |
Kosketusnäytölliset mobiililaitteet ovat nykyisin yleishyödykkeitä, joiden käyttö on osa arkea. Kyllästetyillä markkinoilla mobiililaitteen kilpailykyky edellyttää tehokasta laadunvalvontaa, jotta tuotteessa yhdistyy korkea laatu edulliseen hintaan. Valkoisen valon interferometriakuvantaminen mahdollistaa nopean, kustannustehokkaan ja rikkomattoman mobiilinäyttöjen laadunvalvontamenetelmän. Käyttämällä optista kompensointia menetelmällä voidaan tuottaa 3D-kuvia näytön sisäisistä rakenteista muutamien nanometrien korkeustarkkuudella. Koostamalla useita yksittäisiä korkean resoluution 3D-kuvia toisiinsa yhdistämismenetelmällä voidaan näytön sisäisistä rakenteista tuottaa tarkka ja laaja 3D-kuvaus laadunvalvonnan tarpeisiin. Käytännön esimerkkinä mobiililaitteen kosketusnäytön sisäisistä rakenteista tehtiin 3D-kuvaus. Rakenteellinen kuvaus paljasti 0.92 ± 0.02 um päälilasin korkeusvaihtelun näytön kokoonpanossa. Esitetty kuvantamismenetelmä mahdollistaa nykyistä tehokkaamman laadunvalvonnan mobiililaitteiden näyttöjen valmistukseen. |
fi |
| dct.language |
en |
|
| ethesis.language.URI |
http://data.hulib.helsinki.fi/id/languages/eng |
|
| ethesis.language |
English |
en |
| ethesis.language |
englanti |
fi |
| ethesis.language |
engelska |
sv |
| ethesis.thesistype |
pro gradu-avhandlingar |
sv |
| ethesis.thesistype |
pro gradu -tutkielmat |
fi |
| ethesis.thesistype |
master's thesis |
en |
| ethesis.thesistype.URI |
http://data.hulib.helsinki.fi/id/thesistypes/mastersthesis |
|
| dct.identifier.urn |
URN:NBN:fi-fe2017112252454 |
|
| dc.type.dcmitype |
Text |
|
